一種光學(xué)設(shè)備壓力檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022572344.3 申請日 -
公開(公告)號(hào) CN213364086U 公開(公告)日 2021-06-04
申請公布號(hào) CN213364086U 申請公布日 2021-06-04
分類號(hào) G01L1/00 分類 測量;測試;
發(fā)明人 張小斌;董站崗;羅立瑞;趙倫;張曉;張廷才 申請(專利權(quán))人 南陽利達(dá)光電有限公司
代理機(jī)構(gòu) 鄭州科維專利代理有限公司 代理人 趙繼福
地址 473000 河南省南陽市高新區(qū)信臣西路366號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種光學(xué)設(shè)備壓力檢測裝置,包括與光學(xué)設(shè)備的機(jī)架固定連接的支撐機(jī)構(gòu)、與支撐機(jī)構(gòu)固定連接的壓力傳感器、與壓力傳感器通過電線連接的微型壓力測量儀,所述支撐機(jī)構(gòu)包括與光學(xué)設(shè)備的第一機(jī)架固定連接的第一支撐機(jī)構(gòu)、與光學(xué)設(shè)備的第二機(jī)架固定連接的第二支撐機(jī)構(gòu),本實(shí)用新型微型壓力測量儀和壓力傳感器的設(shè)置,具有測量方便、測量精度高的優(yōu)點(diǎn),可以實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)化的調(diào)節(jié)與檢測,還可以實(shí)現(xiàn)在線測量,有效的解決了光圈的不安定性和現(xiàn)場加工效率低等問題,支撐機(jī)構(gòu)的設(shè)置,可適用于不同型號(hào)的光學(xué)設(shè)備,并廣泛的應(yīng)用到各個(gè)光學(xué)加工企業(yè)中,填補(bǔ)了光學(xué)加工行業(yè)此類檢測裝置的空白,提升了整體光學(xué)零件的加工技術(shù)水平。