一種用于制備AMOLED的PECVD裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201410062827.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN104862666B | 公開(公告)日 | 2018-03-27 |
| 申請公布號 | CN104862666B | 申請公布日 | 2018-03-27 |
| 分類號 | C23C16/44 | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
| 發(fā)明人 | 楊飛云;譚曉華;陳金元;徐升東;李朋;李一成;劉傳生 | 申請(專利權(quán))人 | 理想能源設(shè)備(上海)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201203 上海市松江區(qū)思賢路3255號3幢403室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種用于制備AMOLED的PECVD裝置,通過真空環(huán)境的外腔和進行等離子體增強型化學氣相沉積反應(yīng)的內(nèi)腔相互結(jié)合、對基板進行400?450℃的局部直接高溫加熱、采用間隔部件以及在腔體頂壁和底壁分別設(shè)置冷卻機構(gòu)等一系列技術(shù)手段實現(xiàn)了采用低溫PECVD反應(yīng)腔進行高溫AMOLED工藝的技術(shù)效果,解決了傳統(tǒng)方式中以鋁作為反應(yīng)腔腔體材料而面臨的400?450℃高溫環(huán)境下材料強度、剛度變差以及嚴重的熱形變問題。 |





