芯片測試治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022195741.3 申請日 -
公開（公告）號 CN213578641U 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN213578641U 申請公布日 2021-06-29
分類號 F26B21/00（2006.01）I 分類 干燥;
發(fā)明人 顧明華 申請（專利權(quán)）人 蘇州市大華精密機械有限公司
代理機構(gòu) 蘇州曼博專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 宋俊華
地址 215000江蘇省蘇州市相城區(qū)太平工業(yè)園金瑞路9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種芯片測試治具，包括殼體，所述殼體的內(nèi)腔設(shè)置有底板，所述底板的頂部固定安裝有治具本體，所述殼體的頂部鉸接有蓋門，所述蓋門的頂部固定安裝有矩形箱，所述矩形箱的內(nèi)腔固定安裝有橫板，所述橫板頂部的右側(cè)固定安裝有風(fēng)機。本實用新型通過殼體、底板、治具本體、蓋門、矩形箱、橫板、風(fēng)機、電熱箱、加熱絲、輸氣管、除濕箱、L形管、豎管和風(fēng)扇的設(shè)置，使芯片測試治具，達(dá)到了除濕的目的，同時解決了現(xiàn)有的芯片測試治具沒有對其除水分的裝置，芯片測試治具由許多精密零件構(gòu)成，放置太久容易因為潮濕而發(fā)生損壞，一旦損壞不僅需要維修，也會影響芯片測試的問題。