一種穿通結(jié)構(gòu)可控硅芯片的生產(chǎn)方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010473439.1 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN111816553A | 公開(公告)日 | 2020-10-23 |
| 申請公布號 | CN111816553A | 申請公布日 | 2020-10-23 |
| 分類號 | H01L21/228(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 耿開遠 | 申請(專利權(quán))人 | 濟寧東方芯電子科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 青島發(fā)思特專利商標代理有限公司 | 代理人 | 濟寧東方芯電子科技有限公司 |
| 地址 | 272100山東省濟寧市兗州區(qū)兗顏路路北天齊廟村村西 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明屬于半導體芯片技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種穿通結(jié)構(gòu)可控硅芯片的生產(chǎn)方法,包括如下步驟:(1)將硅片氧化處理;(2)將硅片進行光刻,腐蝕成線條,形成穿通環(huán);(3)穿通環(huán)的硅片置于化學腐蝕液中腐蝕出溝槽;(4)利用自動涂源臺涂布;(5)將涂有硼鋁源的硅片置于高溫擴散爐中進行硼鋁擴散。本發(fā)明擴散工藝采用的為硼鋁源,硼鋁源主雜質(zhì)是鋁,鋁擴散速度快,擴散溫度要求低。本發(fā)明形成穿通結(jié)構(gòu)的可控硅片,整個工藝時間16?20小時高溫擴散,且最高溫度比常規(guī)最高溫度低,時間不到原來的1/10,提高了所制得芯片少子壽命。?? |





