一種可控硅隔離墻和短基區(qū)同步擴(kuò)散結(jié)構(gòu)及方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010579367.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN111933684A | 公開(公告)日 | 2020-11-13 |
| 申請公布號 | CN111933684A | 申請公布日 | 2020-11-13 |
| 分類號 | H01L29/06(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 耿開遠(yuǎn) | 申請(專利權(quán))人 | 濟(jì)寧東方芯電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 青島發(fā)思特專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 濟(jì)寧東方芯電子科技有限公司 |
| 地址 | 272100山東省濟(jì)寧市兗州區(qū)兗顏路路北天齊廟村村西 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開一種可控硅隔離墻和短基區(qū)同步擴(kuò)散結(jié)構(gòu)及方法,屬于半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域,包括短基區(qū)、高阻區(qū)、陰極區(qū)和臺(tái)面槽,臺(tái)面槽的上方設(shè)有玻璃鈍化層,短基區(qū)的外側(cè)設(shè)有背面開槽區(qū),背面開槽區(qū)內(nèi)設(shè)有鎵層,通過背面開槽以及槽內(nèi)擴(kuò)鎵形成隔離墻,隔離墻和短基區(qū)同質(zhì),隔離墻和短基區(qū)同步形成,鎵層擴(kuò)散濃度和深度相同,使用鎵作為導(dǎo)電介質(zhì),通過背面開槽加槽內(nèi)擴(kuò)鎵形成隔離墻,擴(kuò)散溫度低,時(shí)間短,避免了常規(guī)的深結(jié)長時(shí)間高溫?cái)U(kuò)散大大減少了工步,解決了現(xiàn)有技術(shù)中出現(xiàn)的問題。?? |





