物料盤的校正方法和校正系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110404545.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113052777A 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN113052777A 申請公布日 2021-06-29
分類號 G06T5/00;G06T7/70 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 郭祥輝;鄧亞平;楊崢嶸 申請（專利權(quán)）人 環(huán)旭電子股份有限公司
代理機構(gòu) 上海隆天律師事務(wù)所 代理人 徐莉;鐘宗
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)集成電路產(chǎn)業(yè)區(qū)張東路1558號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，提供一種物料盤的校正方法和校正系統(tǒng)。所述物料盤的校正方法包括：在一物料盤的置物點陣列中，確定若干置物點作為校準(zhǔn)點；分別通過攝像裝置和測距裝置，獲得每個校準(zhǔn)點的平面坐標(biāo)和高度坐標(biāo)，形成校準(zhǔn)點的三維坐標(biāo)集；根據(jù)部分校準(zhǔn)點的平面坐標(biāo)和每個置物點與置物點陣列的位置關(guān)系，計算每個置物點的平面坐標(biāo)；根據(jù)三維坐標(biāo)集和每個置物點與置物點陣列的位置關(guān)系，通過貝塞爾曲面計算每個置物點的高度坐標(biāo)；以及，獲得置物點陣列的校正后的三維坐標(biāo)集合。本發(fā)明通過攝像裝置和測距裝置，結(jié)合貝塞爾曲面擬合原理，實現(xiàn)物料盤的三維方向的自動校正，提升校正效率，提高校正精度，克服物料盤的變形彎曲問題。