一種用于測試電子元件的高溫高濕測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023104984.8 申請日 -
公開（公告）號 CN214011094U 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN214011094U 申請公布日 2021-08-20
分類號 G01N25/00（2006.01）I;G01N17/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 喬森 申請（專利權(quán)）人 森諾檢測認證技術(shù)服務（深圳）有限公司
代理機構(gòu) 南昌逸辰知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 劉林艷
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道浪口工業(yè)園81號4層401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種用于測試電子元件的高溫高濕測試裝置，屬于電子測試技術(shù)領(lǐng)域，以解決現(xiàn)有的高溫高濕測試裝置一般是在封閉的腔室內(nèi)進行試驗，在使用過程中，反復升溫降溫需要消耗大量的能量，造成了極大的浪費的問題，包括測試機主體；所述測試機主體的頂部內(nèi)側(cè)固定連接有一組工件輸送驅(qū)動件；所述測試機主體的中部轉(zhuǎn)動連接有一組轉(zhuǎn)位旋轉(zhuǎn)軸；所述測試機主體的內(nèi)部圓周陣列排布滑動連接有四對封閉分隔門。本實用新型通過設(shè)置操作、試驗腔、緩沖腔，分別實現(xiàn)對電子元器件的裝卸、升溫、試驗、降溫等，大大降低了在使用中試驗腔中的溫度和濕度變化，減少了熱量的流失，更加節(jié)能，試驗速度更快，提高了試驗效率。